SJT 10811-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1008型TTL四2输入与非门(可供认证用)
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ID：
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1677D883676449A6A9C8C4A9F887EEE9
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文件大小(MB)：
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0.92
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页数：
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17
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文件格式：
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pdf
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日期：
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2024-7-28
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中华人民共和国国家标准,电子元器件详细规范UDC 621.38.0S2,半导体集成电路CT1008型,TTL四2输入与门,GB 7008—86,降为 SJ/T 10811-96,Detail specification for electronic con^mient,Semiconductor integrated circuit—CT 1008,TTL Quad 2 input AND gate,（可供认证用),本规范规定了半导体集成电路CT 1008型TTL四2输入与门鉴定和质量评定的全部内容,本规范是按照GB 5965-86《半导体集成电路双极型门电路空白详细规范》制订的,并符合,GB 4589-84《半导体集成电路总规范》的要求,中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所,国家标准局1 986 7178发布1987-08 01 试行,1,1 r ).r,6B76e8T會,家标准局,评定器件质量的依据: GB 7（ゆ一部,GB 4589.1—84《半导体集成电路,总规范》,CT1008型四2输入与门详细规范,订货资料キ见本施范第7章,含,*1 k/K,个.. ▼---,1机械说明简要说明,雑能依据g GB *70 —86《半,导体集龙电路外形尺寸》,TTL集成门电路,半导体材料丒硅,外形图,见本规范第10」条,引出端排列g,封装丒空封、非空封,逻辑符号,達辑图和功能表见本规,苑第11章,14,13,12,n,VCC,4 B,4 A,4 Y,3 R,3A,3 Y,0 .701c,封装形式,丒甕直辭（1?,.. lift all,黒甕直插（J）,塑料直插（P）,附饗扁平（W）,全密封扁平（F）,(C),CTWCD,CT1008CJ,CT1008CP,CT1008CW,CT1008CF,-55~125c,E,按本规范鉴定合格的器件ー其制造单位的有关资料,可在合格产品一,览表中査到,*Ma,2,GB,4极限值（绝对量大额定值）,若无其他规定か适用于全工作温度范围.,数值,条款号符号,良做她丒加,最小,单位,4.8,-55 125,工作环境温度,It存温度,电源电压,输入电压,Ta,Vcc,70,150,多发射极晶体管输入端间的电压,%,*R******,Vu,参数,M,电而3丒版,C,0,C,S电工作条件和电特性,电特性的检驗要求见本规范第8章Q,5J电工作条件,若无其他规定.适用于全エ1m度范圉丒,.,5.1.1 电源电压,5.1.2 输入高电平电压,输入低电平电压,输出高电平电流,最大,I,卜,数值,4jh,单位,5.5,4.75 5.25,16,号,宀,参 数,.,M,c,卜,厶,5. i电特性,若无其他规定丒适用于全工作温度范围◎,3,GB 7008-86,规范值,条款号特性和条件’彻符号第用,F,试验,521,输出高电平电压,Vqc =最小,匕h = 2 V,70H = -800p A,5.2.2,输出低电平电压,^cc =最小ヨ匕H,Zol = 16mA,=0?8 V >,528,输入钳位电压,f^cc =最小,/[K = 一 12mA,524,输入电流,Vcc =最大,V\ =5,5V,IH,最小最大,た,厶H A3,A3,A3,1 mA,0.4,A3,5.2.5,输入高电平电流,匕cc二最大,匕H = 2.4 V,レA A3,526,输入低电平电流,匕3c丒最大丒胃il = 0.4 V,■，…ur丒 iE,氏乳7,输出短路电流,匕:c =最大,M,.,C,529,5*2J0,输出高电平时电源电流,y CC f 阪K,输出低电平时电源电流,f^cc 二最大,传输延迟时间,匕5V, Ta =25C,匕n - 3 V , /= 1 MHz 9,t卡=0?5s, f「V7 t,ff<7nsナ腺后ド-1.5V>,Ci = 15 pF 9 /?しエ 400a,注:たC为最小或最大按本规范第5.1.1款a,40,/os -20 一 55,mA,mA,A3,A3,一 I8,ィ,21,33,27,%HL 19,-55,mA,mA,A5,A3,A3,4,GB 7008-“,9,6标志,器件上标志的标法示例如图レ,若受器件尺寸限制时,允许将“检验批识别代码嘴?评定类别,标在器件背面,7订货资料,若无其他规定,订购器件至少需要下列资料￡,丒丒准确的型号,b.详细规范的国家编号,部质量评定类别,?试裝条件和检験要求,抽样要求丒根据采用的质■评定类别,按GB 4589 — 84第3.6.2款表6和表7的规定.,5,GB 70ta-86,B组、C组和D组检雑的抽样要求,LTPD,分组超 类,A C D E,Bl 15 15 15 15 15,30 30 30 30,C3 15 15 15 15 15,B 4 ?C 4 15 15 15 15 15,B5 20 20 20 20 20,C6 20 20,M,20 20 20,D8,C7 20 20 加20 20,> 81 7 W 10 10,キ,C9 7 15 15,Cll 20 20 20 20 20,7 10 10 10,6,GB 7QQ8T6,A组ーー逐批,所有试验均为非破坏性的（见GB 4齡9-84第366款3,条件,检验或试验引用文件若无其他规定,Ta=25C……
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